نانو و کیمیا | Nanokimia

‍#منابع_دهمین_مسابقه_ملی_فناوری‌نانو
📌طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس (X-ray Photoelectron Spectroscopy)

🔻طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) یک روش طیف سنجی کمی حساس به سطح بر اساس اثر فوتوالکتریک است که می‌تواند عناصری را که درون یک ماده وجود دارد (ترکیب عناصر) یا سطح آن را پوشانده‌اند شناسایی کند. همچنین می‌تواند وضعیت شیمیایی آنها و ساختار الکترونیکی کلی و تراکم حالتهای الکترونیکی موجود در ماده را نیز شناسایی کند.

🔻‏XPS یک روش اندازه‌گیری قدرتمند است. زیرا نه تنها نشان می‌دهد که چه عناصری وجود دارد، بلکه همچنین نشان می‌دهد که عناصر موجود با چه عناصر دیگری پیوند برقرار کرده‌اند.

🔻‏XPS متعلق به خانواده طیف سنج‏ی نوری است که طی آن طیف‌های مجموعه الکترون توسط تاباندن پرتوی X به ماده بدست می‌آیند. خصوصیات مواد از اندازه گیری انرژی جنبشی و تعداد الکترونهای خارج شده استنباط می شود.‏

‏⬆️مزایا:
🔹غیرمخرب
🔹حساس به سطح
🔹اندازه‌گیری کمی
🔹ارائه‌ی اطلاعات درباره‌ی پیوندهای شیمیایی

⬇️معایب:
🔸بسیار گران قیمت
🔸نیازمند خلأ شدید (کمتر از میکروپاسکال)
🔸پروسه‌ی کند
🔸عدم شناسایی هیدروژن و هلیوم

#آنالیز
کانال آموزش مجازی نانو و کیمیا

@nanokimia